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日本日置HIOKI阻抗分析仪IM3570

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1台仪器实现不同测量条件下的高速检查

1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
LCR模式下Z快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
 
日本日置HIOKI阻抗分析仪IM3570的详细资料:

1台仪器实现不同测量条件下的高速检查
 
1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
LCR模式下zui快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
基本精度±0.08%的高精度测量
适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
 
主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。
 
基本参数
 
测量模式 LCR(LCR测量),分析仪(扫描测量),连续测量
测量参数 Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q 
测量量程 100mΩ~100MΩ,12档量程(所有参数由Z确定) 
显示范围 Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[单位]~9.999999G[单位],仅Z和Y显示值
θ:±(0.000°~999.999°),D:±(0.000000~9.999999)
Q:±(0.00~99999.99),△%:±(0.0000%~999.9999%) 
基本精度 Z:±0.08%rdg. θ:±0.05°
测量频率 4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步进)
测量信号电平 V模式,CV模式(普通模式)
50mV~1Vrms,1mVrms步进(1MHz以下)
10mV~1Vrms,1mVrms步进(1.0001MHz以上)
CC模式(普通模式)
10μA~50mA rms,10μA rms步进(1MHz以下)
10μA~10mA rms,10μA rms步进(1.0001MHz以上)
输出阻抗 普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω
显示 彩色TFT5.7英寸,可设置显示ON/OFF
测量时间 0.5ms(100kHz,FAST,显示OFF,代表值)
测量速度 FAST/MED/SLOW/SLOW2
其他功能 DC偏压测量,比较功能,面板读取和保存,存储功能
接口 EXT I/O,RS-232C,GP-IB,USB通讯,U盘,LAN
电源 AC90~264V,50/60Hz,zui大150VA
打印 拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用9442,9593-01和9446)
接口 GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(所有标准)
电源 AC90~264V,50/60Hz,zui大150VA
体积和重量 330W×119H×307Dmm,5.8kg
附件 电源线×1,使用说明书×1,通讯手册×1

产品相关关键字: 日本日置HIOKI阻抗分析仪IM3570
 
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