X荧光镀层测厚仪CMI900

主要规格

规格描述

X射线激发系统

垂直上照式X射线光学系统

空冷式微聚焦型X射线管，Be窗

标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等

功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）－标准

      75W（4-50kV，0-1.5mA）－任选

装备有安全防射线光闸

二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选

准直器程控交换系统

zui多可同时装配6种规格的准直器

多种规格尺寸准直器任选：

－圆形，如4、6、8、12、20 mil等

－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

测量斑点尺寸

在12.7mm聚焦距离时，zui小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm准直器）

在12.7mm聚焦距离时，zui大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm（使用0.3mm准直器）

样品室

CMI900

CMI950

－样品室结构

开槽式样品室

开闭式样品室

－zui大样品台尺寸

610mm x 610mm

300mm x 300mm

－XY轴程控移动范围

标准：152.4 x 177.8mm

还有5种规格任选

300mm x 300mm

－Z轴程控移动高度

43.18mm

XYZ程控时，152.4mm

XY轴手动时，269.2mm

－XYZ三轴控制方式

多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制

－样品观察系统

高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。

激光自动对焦功能

可变焦距控制功能和固定焦距控制功能

计算机系统配置

IBM计算机

惠普或爱普生彩色喷墨打印机

分析应用软件

操作系统：Windows2000中文平台

分析软件包：SmartLink FP软件包

－测厚范围

可测定厚度范围：取决于您的具体应用。

－基本分析功能

采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。

样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体（镀液中的元素含量）

可检测元素范围：Ti22 – U92

可同时测定5层/15种元素/共存元素校正

贵金属检测，如Au karat评价

材料和合金元素分析，

材料鉴别和分类检测

液体样品分析，如镀液中的金属元素含量

多达4个样品的光谱同时显示和比较

元素光谱定性分析

－调整和校正功能

系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移

－测量自动化功能

鼠标激活测量模式：“Point and Shoot”

多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式

测量位置预览功能

激光对焦和自动对焦功能

－样品台程控功能

设定测量点

连续多点测量

测量位置预览（图表显示）

－统计计算功能

平均值、标准偏差、相对标准偏差、zui大值、zui小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图

数据分组、X-bar/R图表、直方图

数据库存储功能

任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书

－系统安全监测功能

Z轴保护传感器

样品室门开闭传感器

操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师